反射測(cè)試儀內(nèi)部采用了集成式的微型光譜儀，沒(méi)有固定式光學(xué)元件，穩(wěn)固可靠，光學(xué)精度不受移動(dòng)影響，體積小巧，可以在各種環(huán)境中使用。是一套全波長(zhǎng)顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類(lèi)球面/非球面器件的相對(duì)/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測(cè)量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測(cè)量。
反射測(cè)試儀特點(diǎn)：
1.光譜范圍380-1100nm，光源帶紫外增強(qiáng)
2.支持CIE-X，Y色度圖，L*a*b*測(cè)量
3.專(zhuān)業(yè)光譜測(cè)量軟件，數(shù)據(jù)管理方便
4.通過(guò)增加顯微測(cè)定的方式，可以測(cè)定微小領(lǐng)域的反射率，也可以實(shí)現(xiàn)折射率測(cè)量
5.快速實(shí)現(xiàn)R+T的檢測(cè)，單次測(cè)量時(shí)間小于1S，重復(fù)精度高。
6.*光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)和軟件的算法設(shè)計(jì)，無(wú)需進(jìn)行被測(cè)元件的背面涂黑處理就能快速準(zhǔn)確地測(cè)定表面透反射率。
反射測(cè)試儀注意事項(xiàng)：
1、為保證測(cè)量精度，測(cè)量環(huán)境溫度應(yīng)接近25℃，儀器應(yīng)經(jīng)常校準(zhǔn)。
2、為克服光電池的光照疲勞現(xiàn)象，在測(cè)試間隙時(shí)間內(nèi)應(yīng)將探頭放在黑色標(biāo)準(zhǔn)板上面。減少插頭的插拔,以免損壞插頭,造成接觸不良。
3、白色標(biāo)準(zhǔn)板應(yīng)遠(yuǎn)離污染，否則會(huì)影響測(cè)量讀數(shù)。
4、白色標(biāo)準(zhǔn)板如有污漬可用高級(jí)繪圖橡皮除凈。
5、試樣的制備請(qǐng)依照相關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行。
反射率測(cè)定儀主要用于白色和淺色漆遮蓋力的測(cè)定，也常用于涂料、色漆的對(duì)比測(cè)試。
