表面粗糙度測(cè)量?jī)x器正越來(lái)越多地用于挑戰(zhàn)性環(huán)境中，如直接在車(chē)間地面測(cè)量。這就要求計(jì)量?jī)x器制造商設(shè)計(jì)更加可靠的系統(tǒng)，并具有能高精度測(cè)量細(xì)微特征的靈敏度。表面粗糙度測(cè)量設(shè)備正在向新接口和智能技術(shù)方面演化。受智能手機(jī)和其他直觀設(shè)備的影響，表面粗糙度測(cè)量變得更加容易和快捷，且對(duì)高精度和高可靠性測(cè)量的要求更高，但對(duì)小半徑的極小零件測(cè)量會(huì)十分困難。該挑戰(zhàn)通常采用更小的截?cái)嘀岛透痰膾咣E來(lái)克服。
對(duì)比接觸測(cè)量，非接觸測(cè)量有幾個(gè)關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)，特別適用于測(cè)量光學(xué)和易脆零件以及對(duì)測(cè)量速度要求苛刻的場(chǎng)合。然而，這也帶來(lái)了儀器成本的增加。接觸測(cè)量在成本敏感的初始資本工具采購(gòu)行業(yè)更受歡迎。這些行業(yè)需要更可靠的儀器以達(dá)到基于接觸測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)。在近期內(nèi)還沒(méi)有看到改變，對(duì)更多數(shù)據(jù)的測(cè)量需要更多的資金投入。此外，能測(cè)量新參數(shù)和體積更小、用戶(hù)界面更友好的表面光潔度測(cè)量?jī)x器的需求在上升。當(dāng)采集數(shù)據(jù)的測(cè)量方法由傳統(tǒng)的表面光潔度樣卡比對(duì)方式變?yōu)榭焖僮x數(shù)時(shí)，就會(huì)盡可能地揭開(kāi)表面粗糙度的奧秘。現(xiàn)有高度精密、小型化和直觀的測(cè)量?jī)x器套件，可采集數(shù)據(jù)點(diǎn)，并讓用戶(hù)分析數(shù)據(jù)和表面光潔度。
市面上的很多表面粗糙度測(cè)量?jī)x器內(nèi)建了很多參數(shù)，并非簡(jiǎn)單的不同參數(shù)，而是基于ISO、JIS和ASME標(biāo)準(zhǔn)的不同濾波和參數(shù)。很多行業(yè)均有協(xié)會(huì)幫助制定用于某些零件或制造工藝的參數(shù)。另一途徑是確定特定待測(cè)缺陷的特征，并選擇對(duì)這些特征敏感的參數(shù)。此外，很多儀器制造商很樂(lè)意幫助用戶(hù)進(jìn)行參數(shù)選擇。默認(rèn)或/和自動(dòng)參數(shù)選擇并不是一個(gè)好習(xí)慣，因?yàn)檫@樣只會(huì)選擇常見(jiàn)的參數(shù)而不是適合的參數(shù)。這里涉及的主要問(wèn)題是如何確定影響待測(cè)零件的重要因素。如果零件是曲軸，相對(duì)于平面零件，就會(huì)受到不同類(lèi)型的應(yīng)力。用戶(hù)應(yīng)該盡力掌握正確參數(shù)以及正確截止值和濾波的應(yīng)用，以消除測(cè)量過(guò)程中的噪聲和大部分可變因素，并終達(dá)到高度的可重復(fù)性。